Polski English

Wydział Chemii

Wiadomości Chemiczne Polskie Towarzystwo Chemiczne MNiSW

Wykład dr hab. Marka Szklarczyka

20.11.2015
Dr hab. Marek Szklarczyk

(Uniwersytet Warszawski, Shim-Pol)
23.11.2015; g.: 15:00; s. AUD I
Tytuł
Techniki badania powierzchni: Rentgenowska Spektroskopia fotoelektronów, XPS - Podstawy teoretyczne i zastosowanie w biologii i medycynie

DZIEKAN

Streszczenie wykładu: Podstawy teoretyczne Rentgenowskiej Spektroskopii Fotoelektronów (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) zostały podane na przełomie XIX i XX wieku. 

Z dziedziną tą związane są takie osoby jak między innymi Coulomb, de Broglie, Bohr, Einstein, Rutherford, Geiger, Marsden, Auger i Lenard. W 1899 Lenard dokonał pierwszego pomiaru energii kinetycznej fotoelektronów. Możliwości praktycznego zastosowania teorii oddziaływania cząstek do analizy chemicznej pokazano w drugiej połowie XX-ego wieku. 
W 1950 Karl Siegbahn pokazał możliwości zastosowania tej techniki do analizy pierwiastków, zaś w 1964, jego syn, Kai Siegbahn  do analizy związków chemicznych. Początkowo technika ta była stosowana do analizy związków nieorganicznych. Wraz z rozwojem techniki i elektroniki wykazywano możliwości zastosowania metody XPS w coraz to nowych dziedzinach. Obecnie metoda ta coraz częściej jest stosowana do analizy obiektów biologicznych jak i medycznych.

W trakcie wykładu, w pierwszej jego części, przedstawione zostaną podstawy teoretyczne prezentowanej metody. W drugiej części wykładu zostaną zaprezentowane właściwości spektrometru XPS umożliwiające badanie obiektów organicznych. Trzecia część wykładu poświęcona będzie prezentacji zastosowań tej metody, od analizy próbek nieorganicznych poprzez związki organiczne, aż do zastosowania tej metody do rozwiązywania problemów spotykanych w medycynie i procesach hodowli tkanek stosowanych do przeszczepów.


Data ostatniej modyfikacji: 22.11.2015 godzina: 06:39:29